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MIT. Fuentes para la vigilancia tecnológica

MIT. Fuentes para la vigilancia tecnológica
Organiza: 
B. Ingenieros
Orientado a: 
Alumnos de Máster
Centro/s destinatario/s: 
Escuela Técnica Superior de Ingeniería
Másteres/Doctorados: 
Máster Universitario en Ingeniería de Telecomunicación
Descripción: 

Sesión dirigida a los alumnos de la asignatura "Gestión tecnológica I" de 1º de MITT. Los contenidos son: concepto de vigilancia tecnológica como fuente de innovación de las empresas. Se dan a conocer los principales recursos de información que facilitan este proceso. Se describen y analizan los documentos de patentes como fuentes de información para la vigilancia tecnológica y se muestran recursos electrónicos para la búsqueda de esta tipología documental. Se explican las clasificaciones internacionales de patentes como recursos fundamentales para la búsqueda de las mismas. 

Materias: 
ABI/INFORM, AENORmás, Búsqueda de información: proceso, Ciencia y Tecnología (General), Elaboración de citas y referencias, Ingeniería de Organización, LexisNexis Academic, Normas, Patentes, SABI, Scopus
Formador/es: 
Consuelo Arahal Junco
consueloaj@us.es
Modalidad: 
Presencial
Integrado: